漏電起痕測試設備

產(chǎn)品型號：HCLD-2

廠商性質：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-07-13

產(chǎn)品簡介：

華測儀器HCLD-2漏電起痕測試設備

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HCLD-2漏電起痕測試設備由華測儀器生產(chǎn)，是根據(jù)耐漏電起痕試驗（電痕化指數(shù)試驗）的標準，規(guī)定的模擬仿真試驗項目。用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。電痕化是指固體絕緣材料在電應力和電解雜質的聯(lián)合作用下，在表面（或內部）產(chǎn)生導電通道。

產(chǎn)品參數(shù)

試驗電壓：100V~1000V（可定制）

控制方式：12寸觸摸屏控制系統(tǒng)

滴液高度：30~40mm 連續(xù)可調

試驗電壓壓降：≤5%

電極距離：4.0mm±0.1mm，夾角 60°±5

電極壓力：1.0±0.05N(可調)

滴液間隔時間：1s ~ 999s

短接電流：1A

試驗艙材料：PC塑料

滴液大小：（20.0 ~ 23.0）mm3 連續(xù)可調

操控方式：12寸觸摸屏

試驗終止：50滴或100滴或漏電流≥0.5A并維持時間≥2s

應用領域

耐漏電起痕試驗是評價電工電子產(chǎn)品中使用的固體絕緣材料優(yōu)劣的重要指標，被普遍應用于電工電子、電器、半導體封裝、信息技術設備、改性塑料等領域。