多通道離子遷移劣化測試系統

產品型號：Huace

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-07-09

產品簡介：

華測儀器多通道離子遷移劣化測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

多通道離子遷移劣化測試系統由華測儀器生產，是一種信賴性試驗設備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現象的影響。

產品參數

技術指標

測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）；

測試通道:128通道（可定制至高960通道）；

測試時長:可連續運行1500小時；

測試溫度:85℃（可定制）；

測試濕度:85%（可定制）；

測量范圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω；

極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）；

掃描周期:至快 2分鐘（128通道）；

環境試驗箱（可定制）

應用領域

電子材料：印BGA、CSP等節距IC封裝件；

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導電膠等有關印刷電路板、密度高的封裝材料；

半導體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。