鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)的原理是什么？

　　鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)主要由信號(hào)發(fā)生器、均衡器、緩沖器、功率驅(qū)動(dòng)器和高壓發(fā)生器等組成，可輸出正弦、三角、矩形和雙極性雙脈沖等多種波形，數(shù)字存儲(chǔ)示波器完成波形顯示和數(shù)據(jù)采集，控制模塊由PCI卡和邏輯控制電路組成，完成按鈕和旋鈕的邏輯和物理功能。
　　對(duì)于導(dǎo)電電子來說，晶粒間界面相當(dāng)于一個(gè)勢(shì)壘，當(dāng)溫度低時(shí)，由于鈦酸鋇內(nèi)電場(chǎng)的作用，導(dǎo)致電子極容易越過勢(shì)壘，則電阻值較小，當(dāng)溫度升高到居里點(diǎn)溫度(即臨界溫度)附近時(shí)，內(nèi)電場(chǎng)受到破壞，它不能幫助導(dǎo)電電子越過勢(shì)壘，這相當(dāng)于勢(shì)壘升高，電阻值突然增大，產(chǎn)生PTC效應(yīng)。
　　鐵電體低維特性的研究是應(yīng)對(duì)薄膜鐵電元件的要求，只有在薄膜等低維系統(tǒng)中，尺寸效應(yīng)才變得不可忽略腳一。極化在表面處的不均勻分布將產(chǎn)生退極化場(chǎng)，對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的極化狀態(tài)產(chǎn)生影響。表面區(qū)域內(nèi)偶極相互作用與體內(nèi)不同，將導(dǎo)致居里溫度隨膜厚而變化。薄膜中還不可避免地有界面效應(yīng)，薄膜厚度變化時(shí)，矯頑場(chǎng)、電容率和自發(fā)極化都隨之變化，需要探明其變化規(guī)律并加以解釋。
　　鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)是一種安全可靠的鐵電體電滯回線測(cè)量裝置，對(duì)了解和掌握壓電晶體等鐵電材料的特性很有益處。該裝置極化電壓連續(xù)可調(diào)、具有樣品盒、片狀樣品、更換方便。并且具有高速數(shù)據(jù)記錄裝置，直接與電腦相連接。回線顯示穩(wěn)定直觀，數(shù)據(jù)處理可靠方便。雖然有自發(fā)極化電矩，但不同子點(diǎn)陣的電矩恰好互相抵消，使得每個(gè)晶胞的總電矩都等于零。但是子點(diǎn)陣的電矩可以在外電場(chǎng)作用下改變方向，所以反鐵電體的介電常數(shù)通常要比非鐵電晶體的大。當(dāng)外加電場(chǎng)足夠大時(shí)，可以迫使一個(gè)子點(diǎn)陣的全部電矩改變?nèi)∠蚨c另一個(gè)子點(diǎn)陣一致，于是晶體成為鐵電狀態(tài)。