華測(cè)儀器多層陶瓷電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)

電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。儀器自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。系統(tǒng)通過準(zhǔn)確控制溫度環(huán)境，并測(cè)量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評(píng)估其溫度特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1、至多64個(gè)通道的自動(dòng)測(cè)量

可以測(cè)量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個(gè)通道的倍數(shù)，至多64個(gè)通道

2、圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù)，包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查

3、可從不同測(cè)試模式選擇

溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測(cè)試可與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試相合

溫度特性評(píng)估測(cè)試：在此測(cè)試模式下，自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù)，并與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（范圍可定制）

持續(xù)運(yùn)行測(cè)試：測(cè)試模式測(cè)量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)

頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)：試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)

4、多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本（可選）

除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具

產(chǎn)品參數(shù)

測(cè)量項(xiàng)目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

測(cè)試方法：溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)（相對(duì)于溫度的變化）

                  恒定運(yùn)行檢測(cè)（相對(duì)于檢測(cè)時(shí)間的變化）

                  頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn) （相對(duì)于頻率的變化）

通道配置：8通道（標(biāo)準(zhǔn)）；至多64通道可擴(kuò)展8通道增量

測(cè)量方法：交流四端對(duì)測(cè)量

測(cè)量范圍：測(cè)量頻率：20 Hz ~ 1 MHz

                  電容量(C)：50 pF ~ 5 mF

                  損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999

                  阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

測(cè)量?jī)x器：LCR表（可按需選擇型號(hào)）

直流偏壓：0 ~ ±40V

溫度測(cè)量間隔：1 ℃

掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成

頻率步長(zhǎng)：201步（范圍可定制）

補(bǔ)償：短時(shí)補(bǔ)償，開放補(bǔ)償

環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)控制：溫度數(shù)據(jù)采集與測(cè)量和的溫度控制同步，具有RS-485功能的環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)

測(cè)量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜（特性阻抗(Z)，50Ω，95 pF/m）

應(yīng)用領(lǐng)域

通信與信息技術(shù)：在通信設(shè)備和信息技術(shù)產(chǎn)品中，多通道電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)可以提供測(cè)試方案，確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性

電子材料：印刷電路板、通量、絕緣材料（樹脂、薄膜等）、介電材料（鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等）